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Fundamentos de Metropologia Científica e Industrial
Autor: JR. G, ALBERTAZZI E SOUSA DE
Editora: MANOLE TECNICO
Avaliação:
R$ 129,00 á vista
Em até 4 de 32.25 s/juros
Fora de estoqueCódigo: 9788520433751
Categoria: Física
Descrição Saiba mais informações
Este livro foi inicialmente concebido como material de apoio para o aprendizado da metrologia nos cursos de graduação e pós-graduação nas áreas das engenharias, ciências exatas e afins. A abordagem intuitiva e o sequenciamento progressivo adotado tornam o livro adequado para pessoas autodidatas, bem como acessível para cursos técnicos e de educação continuada. Esta nova edição acrescenta um capítulo sobre o uso de simulações numéricas para estimar incertezas de medição e um novo anexo com conceitos de estatística apresentados de forma intuitiva. O objetivo é que esta obra possa conduzir o leitor à compreensão e aplicação consciente da metrologia em favor do aumento da confiabilidade do trabalho experimental.
Acabamento | brochura |
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Páginas | 480 |
Formato | 15x22 |
Lombada | 2.1 |
Altura | 2.1 |
Largura | 15 |
Comprimento | 22 |
Data de publicação | 01/09/2018 |
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Código de Barras | 9788520433751 |
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